產(chǎn)品介紹

NIST SRM 1763b 低合金鋼標(biāo)準(zhǔn)品是一種低合金鋼，主要用于評(píng)估低合金鋼和類(lèi)似基體材料中元素的分析方法。它可用于驗(yàn)證內(nèi)部參考資料的價(jià)值分配。 SRM 1763b 的一個(gè)單元由一個(gè)直徑約 34 毫米、厚 19 毫米的圓盤(pán)組成。

儲(chǔ)存、處理和使用說(shuō)明

測(cè)試表面是與標(biāo)記表面相對(duì)的一側(cè)，其中包括 SRM 編號(hào)。該NIST SRM 1763b 低合金鋼標(biāo)準(zhǔn)品裝置的整個(gè)厚度都經(jīng)過(guò)認(rèn)證。但是，警告用戶(hù)在使用 X 射線(xiàn)熒光光譜法時(shí)不要測(cè)量厚度小于 2 毫米的圓盤(pán)。每個(gè)封裝的磁盤(pán)都是通過(guò)使用銑削完成測(cè)試表面來(lái)準(zhǔn)備的機(jī)器。用戶(hù)必須為每種分析技術(shù)確定正確的表面處理程序。提醒用戶(hù)在重修磁盤(pán)或進(jìn)行額外拋光時(shí)要小心，因?yàn)檫@些過(guò)程可能會(huì)污染表面。 NIST 發(fā)現(xiàn)在表面磨削過(guò)程中必須經(jīng)常更換砂紙。用過(guò)的紙失去了去除鋼材表面污染物的能力。不使用時(shí)，應(yīng)將材料存放在其原始容器中，置于陰涼干燥的地方。使用實(shí)心圓盤(pán)和由圓盤(pán)制備的芯片測(cè)試該材料。

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